МАТЕРИАЛОГРАФИЯ Микроскопия Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения
Сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения

Verios XHR SEM – сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения.
Система дает точные и воспроизводимые результаты измерений даже для сверхчувствительных материалов. В комбинации с метрологическим программным обеспечением FEI, Verios обеспечивает точность измерений, необходимую для контроля процессов развития технологий. Verios предлагает лучшую производительность без ущерба высокой пропускной способности, гибкости образцов и простоты традиционной сканирующей электронной микроскопии (разрешение до 0,6 нм при 30 кВ).   

 

Модуль невидимка

Мы созданы для того, чтобы быть надёжным Поставщиком химпродукции и лабораторного оборудования на рынке Казахстана

@Mail.ru